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　　ICT檢測(cè)設(shè)備的自動(dòng)光學(xué)檢查(AOI)

　　AOIICT測(cè)試設(shè)備公司使用一臺(tái)2D相機(jī)或兩臺(tái)3D相機(jī)拍攝PCB照片。然后，程序會(huì)將電路板的照片與詳細(xì)的原理圖進(jìn)行對(duì)比。假設(shè)有電路板在某種程度上與原理圖不符，那么電路板就會(huì)被標(biāo)記出來(lái)，讓技術(shù)人員檢查。

　　ICT檢測(cè)設(shè)備AOI可用于早期發(fā)現(xiàn)問(wèn)題，以確保盡快停止消費(fèi)。但是，它不會(huì)向電路板供電，也可能無(wú)法完全覆蓋所有元件類型。

　　不要僅依靠自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)。AOI應(yīng)與其他測(cè)試分開使用。我們喜歡的一些組合是:

　　1.AOI和飛針

　　2.AOI和在線測(cè)試(ICT)

　　3.AOI和功能測(cè)試

　　4.ICT檢測(cè)設(shè)備的老化測(cè)試

　　ICT檢測(cè)設(shè)備老化測(cè)試是對(duì)PCB更激烈的測(cè)試。它旨在檢測(cè)早期缺陷，并建立加載能力。由于其強(qiáng)度，老化測(cè)試可能會(huì)損壞被測(cè)試的零件。

　　ICT檢測(cè)設(shè)備老化測(cè)試通過(guò)您的電子設(shè)備推動(dòng)電源，通常以其指定的容量。通過(guò)電源電路板連續(xù)運(yùn)行48至168小時(shí)。假設(shè)董事會(huì)失敗，叫做嬰兒死亡率。對(duì)于軍事或醫(yī).療應(yīng)用，嬰兒死亡率高的電路板顯然不太理想。

　　ICT檢測(cè)設(shè)備老化測(cè)試并不適合每個(gè)項(xiàng)目，但在某些中心是有意義的。它可以在產(chǎn)品到達(dá)客戶之前避免尷尬或有風(fēng)險(xiǎn)的產(chǎn)品發(fā)布。

　　記住，ICT檢測(cè)設(shè)備的老化測(cè)試會(huì)縮短產(chǎn)品的使用壽命，尤其是當(dāng)測(cè)試讓你的電路板承受超過(guò)額定值的壓力時(shí)。假設(shè)很少或沒有發(fā)現(xiàn)缺陷，可以在短時(shí)間內(nèi)降低測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，以避免PCB承受過(guò)大的壓力。